株式会社 テックサイエンス
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測定事例　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　更新日
   
イオン化ポテンシャルと仕事関数の測定事例
 2011/11
透明膜を測る　 マイクロレンズ・石英
 2011/7
太陽電池結晶ピラミッドを測る
 2011/7
太陽電池金属フィンガーを測る
 2011/7
高輝度LED用PSS基板を測る
 2011/11
ブレーキパッドとピストンリングを測る
 2011/9
コーティングを評価する
 2011/7
燃料インジェクターを測る
 2011/6
液晶と紙を測る
 2011/9
ＭＥＭＳ加工パターン箇所を３機種で測る
 2011/7
株式会社テックサイエンス2-64 MIYAMOTOCHO,KOSHIGAYA, SAITAMA　
PHONE : 048-964-3111　FAX : 048-965-1500
▼　新着情報
2012年1月光学顕微鏡で生体試料・ナノ試料の三次元画像が簡単に得られます。三次元画像化ソフトSARFUS
2011年11月LEDのPSS基板測定画像を掲載します
2011年10月期間限定特別価格
を設定します。全焦点３Dプラス形状測定装置およびAFM製品
2011年9月　組込式レンズＡＦＭを販売開始します。AFM製品ライン概要
2011年9月全焦点３Dプラスと原子間力顕微鏡を組合わせた全焦点３DプラスAFMを発売します
2011年8月フォースセンサーをつかったマイクログリッパーとセンサープローブを販売開始します
2011年6月サンプル別の測定事例を掲載します。
2011年6月イオン化ポテンシャル測定装置とケルビンプローブ装置の複合機を開発しました
2011年3月高解像度白色干渉計を発売します
２０１１年２月　全く新しい技術の全焦点３Ｄプラスを発売
2011年1月接触式と非接触３D表面形状測定装置の複合機を販売します。走査型プローブ顕微鏡SPMと、段差粗さ計と白色光干渉計の１台３役の製品
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