表面特性分析 |
光電子分光と電子線回折 |
表面形状・粗さ・摩耗度 |
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仕事関数測定 KP
イオン化ポテンシャル測定 IP
接触角測定
インデント試験 |
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光電子分光測定XPS
X線源
電子線回折装置LEED
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全焦点3D表面形状測定
輪郭形状測定
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校正リーク |
材料  |
受託測定
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ヘリウム・水素・冷媒ガス流量校正
質量分析計のNIST校正器
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高精度単結晶
金属ナノ粒子
エッチングガス XeF2
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表面形状測定
仕事関数測定
接触角測定など
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SAITAMA
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