製品ニュース
製品分類
表面特性分析
AFM・STM・SPM
AFMプローブ・カンチレバー
三次元微細形状測定装置
光電子分光測定
LEED電子線回折装置
イオン化ポテンシャル
仕事関数
磁気センサーマイクロセンサ
材料
原子層堆積装置
測定事例
校正標準リーク
受託分析 受託測定
三次元微細表面形状測定
Surface Metrology
１台３役微細表面形状測定装置
接触式の段差計と走査型プローブ顕微鏡と白色干渉計の複合機
高解像度白色干渉計
４メガピクセルの高解像度と高再現性、従来の白色干渉計より数倍の高速測定
走査型プローブ顕微鏡
接触式の走査型プロ-ブ顕微鏡
1台2役の接触式微細表面形状測定装置
接触式の段差計と接触式の走査型ローブ顕微鏡を一体化
プローブ・カンチレバー
主要メーカーすべてに対応する高品質プローブ
SURFスライドガラス
既存の光学顕微鏡に装着するだけでナノ試料を観測
触針式粗さ計
膜厚測定、粗さ測定、段差測定のシンプルな装置
サンプル別の測定事例
■
太陽電池薄膜の測定
■
生体を測る
■
太陽電池セルの結晶ピラミッドを測る
■
液晶を測る
■
コーティングを評価する
■
燃料インジェクターを測る
■
ブレーキパッドとピ
ストンリングを測る
■
紙を測る
■
MEMS加工パターンを測る
■
PSSを測る
■
イオン化ポテンシャル測定事例
1997-2012 Copyright (C) TECHSCIENCE LTD. All Rights Reserved.
