取扱製品 Products
Surface Analysis
表面特性
分析
XPS・LEED
光電子分光
電子線回折
Surface
Metrology
表面形状測定
顕微鏡
Calibrated Leaks
校正リーク
Sensor & Materials
磁気センサー
材料
成膜
Contracted analysis
受託測定
Surface Analysis 表面特性分析
■
イオン化ポテンシャル測定装置PYS
■
イオン化ポテンシャル測定の測定事例
■
走査型ケルビンプローブ
■
押圧試験機高温対応ナノインデンター
■
UHV対応ケルビンプローブ
■
接触角表面分析装置 VCA Optima-XE
■
光起電力分光ケルビンプローブ
■
12インチウェハー対応接触角表面分析装置
XPS LEED 光電子分光測定・電子線回折装置
■
電子線回折装置関連製品
┣
背面LEED-AES装置
┣
デジタルLEED/AES制御器
┣
MCP背面LEED-AES装置
┣
LEED画像解析装置
┣
Mini-LEED/AES装置
┣
FEMTO-LEED装置
■
光電子分光装置関連製品
┣
IPES逆光電子分光装置
┣
ELS用低エネルギー電子銃
┣
PYS光電子収量分光装置
┣
スパッタイオン源
┣
ツインアノードX線源
┣
小型マグネトロンスパッタ源
┣
オージェ(AES)電子銃
┣
電子振動型イオン源
┣
エッチングイオン源
┣
半球型電子アナライザ
■
イオン源の比較表
■
イオン光学系シミュレーションソフトウェア SIMION
3D 8.1
AFM STM SPM 原子間力顕微鏡 プローブ・カンチレバー
■
組込み式レンズAFM
■
AFM製品ライン概要
■
大気中液中FlexAFM
■
モジュール式STM/AFM
■
SURFスライドガラス
■
AFMプローブ・カンチレバー
Surface Metrology 三次元微細表面形状測定・段差粗さ
■
１台３役接触式非接触式微細形状測定装置NanoMap-D
■
接触式微細形状測定装置NanoMap-LS
■
高解像度白色干渉計NanoMap-O
■
走査型プローブ顕微鏡SPM
■
触針式段差計
サンプル別の測定事例
■
太陽電池薄膜の測定
■
生体を測る
■
太陽電池セルの結晶ピラミッドを測る
■
液晶を測る
■
コーティングを評価する
■
燃料インジェクターを測る
■
ブレーキパッドとピストンリングを測る
■
紙を測る
■
高輝度LEDのPSS基板を測る
■
イオン化ポテンシャル測定事例
Calibrated Leaks 校正標準リーク
■
冷媒ガス・ヘリウム・各種ガス流量校正製品
┣
冷媒リークスタンダード
┣
開放型キャピラリーリーク
┣
スニファ標準リーク
┣
多目的校正スタンダードリーク
┣
ヘリウムスニファリーク
┣
標準混合ガス質量分析校正器
┣
冷媒パーメーションリーク
┣
Heパーメーションリーク
┣
NISTトレーサブル再校正サービス
┣
高精度Heパーメーションリーク
┣
校正スタンダードリーク
┗
液体パーメーションリーク
Materials 磁気センサー マイクロフォースセンサー 材料
■
磁気センサー
■
金属ナノ粒子 QSI-Nano
■
マイクログリッパー
■
マイクロフォースセンサープローブ
■
金属単結晶 酸化物単結晶・合金単結晶
■
エッチングガスXeF
2
（2フッ化キセノン）
■
成膜と蒸着
┣
ALD原子層堆積装置
Contracted analysis 受託分析 受託測定
■
受託試験 表面形状測定 仕事関数性測定 PYS測定 接触角測定
■
SIMS受託分析
1997-2012 Copyright (C) TECHSCIENCE LTD. All Rights Reserved.
