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  1台2役AFMQ-view  2 in 1顕微鏡

AFMと白色干渉計を1台で使い分けできる装置です。 これまでAFMで精密測定したい場所を特定するまでに時間を要しましたが、本機では白色干渉計にて数秒で500μm角を測定して場所を特定したのち、AFMにて精密測定ができます。1台のプラットフォームで白色干渉計とAFMのヘッドを交換して使うことにより低価格にできました。あとからヘッドを追加することもできます。


AAFMQ-view

主な仕様
最大測定高さ 100um
高さ分解能

0.1nm

最大サンプルサイズ 150x150
x22mm(Z)
XY動作範囲 +/-6mm
Z動作範囲 22mm

特  徴

□白色干渉計とAFMをつかいわけることができる
□500μmエリアから測定箇所を指定してAFMで スキャンできる
□測定時間の短縮
□倍率 10x 20x 50x

標準構成
AFMヘッド,  白色干渉計ヘッド, プローブ, カンチレバー,10倍レンズ, モーター駆動ステージ,制御器, 除振台, PC, ISO防振カバー
構成は選択できます。

測定例 Sample Images
金属膜を500μm範囲で観測後円内をAFMで12μmスキャンして画像化、200nmの粒子を観測

メーカーリンク: AMBiOS Technology, Inc.
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