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太陽電池セルの薄膜をテックサイエンスの評価装置で測定した測定例です。ひとつの試料の同じ場所を形状測定器と表面特性評価装置にて測定しました。測定データを特集したカタログをご希望の方はお問い合せページからお知らせ下さい。
| ケルビンプローブにて表面起電力SPSとSPVを測定 |
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多結晶シリコンを形状測定装置とケルビンプローブで測定 |
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同じ多結晶シリコンを段差測定とラインの仕事関数測定
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多結晶シリコン太陽電池 金属フィンガー複数ラインの解析結果 |
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Si結晶太陽電池表面の酸化膜 膜厚測定
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逆光電子分光IPESによる有機膜のUPSとIPES |
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多結晶シリコンの段差計による３D画像と断面プロファイル |
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同じ多結晶シリコンの白色干渉計による３D画像と断面プロファイル |
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