全焦点３Dプラス表面形状測定装置
　　

特　　徴
□　透明サンプル表裏面の測定
□　滑面から凹凸の大きな粗い表面の測定
□　１ｎｍから１００μｍ表面粗さ測定
□　リアルカラー画像・短時間測定
□　濃淡画像の取得
□　微分干渉顕微鏡機能の追加(オプション)
□　光学薄膜の膜厚測定（オプション）
□　多点自動測定プログラム

用　　途
□太陽電池
◇表面形状・　保護膜　膜厚
◇ＣＭＰダイヤモンドパッド・ワイヤーソー
ピラミッドの専用解析ソフトを用意
□LED
◇高輝度ＬＥＤパターン基板　PSSドットパターン
◇液晶RGB
□バイオテクノロジー
◇マイクロ流体デバイス
◇生体
□光学電子部品
◇ハードディスク・磁気ヘッド汚染
◇透明光学部品・携帯電話バックライト・導光板