金属・半導体・有機物のエネルギーバンドは仕事関数やイオン化ポテンシャルの測定にて解析されます。下記はケルビンプローブ、表面起電力ケルビンプローブ、光電子収量分光装置、逆光電子分光装置で測定できる範囲を示します。いづれも当社がご提供できます。
| 測定方法 |
紫外光電子分光 |
X線光電子分光 |
光電子収量分光 |
AES電子分光 |
ケルビンプローブ |
| 略称 |
UPS |
XPS |
PYS |
AES |
KP |
| プローブ |
光 HeT
(21.22eV) |
光 Al
(1486.6eV) |
光 D2
(3-7eV) |
電子
(3kV) |
金属プローブ |
| 測定方法 |
光電子
CMA/CHA |
光電子
CMA/CHA |
試料電流 |
光電子
CMA/CHA |
接触電位差 |
| 測定値 |
絶対値 |
相対値 |
絶対値 |
相対値 |
相対値 |
| 有機・無機 |
イオン化ポテンシャル |
イオン化ポテンシャル |
イオン化ポテンシャル |
イオン化ポテンシャル |
仕事関数 |
| プローブサイズ |
>φ1mm |
>φ1mm |
>φ2-4mm |
>φ1mm |
>φ0.1-10mm |
| 測定環境 |
真空 |
真空 |
大気/真空 |
真空 |
大気/真空 |
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|
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対応装置 |
ケルビンプローブ |
ケルピンプローブ
PYS光電子収量分光装置
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ケルビンプローブ
PYS光電子収量分光装置
UPS紫外線光電子分光装置
逆光電子分光装置
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