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走査型ケルビンプローブ
仕事関数を高分解能で短時間に測る |
仕事関数を高分解能で測定します。走査型ケルビンプローブは、有機EL材料や高分子ポリマー、太陽電池セル、燃料電池など、導電体や半導体表面の吸着状態や金属腐食状態をケルビン法による仕事関数を測定します。高分解能でありながら１測定が１０秒以内という短時間で測定できる優位性があります。
微小チップ（0.2-10mm径）が試料上を走査して非接触で仕事関数を測定して三次元像を作成します。
ケルビンプローブに光照射をして強度と波長の変化と仕事関数を測定する装置として
基板用走査型ケルビンプローブの試料移動距離は200ｘ200ｘ25mm(標準）、300ｘ300ｘ25mm（オプション）となります。大気測定と真空対応の装置があります。
はイオン化ポテンシャルとHOMO準位、フェルミ準位が測 定できます。絶対値仕事関数を求めることができます。デモ測定承ります。
デモ測定を承ります。
当社にて測定をご覧頂くことができます。
主な用途
・ 太陽電池セル・燃料電池材料・光触媒材料の開発と評価
・ 有機薄膜・ＯＥＬＤ膜の仕事関数
・ ITO薄膜表面の汚染・欠陥
・ FDPの検査・品質管理
・ Siウエハーの検査・品質管理
・ 表面の吸着状態,腐食の測定
走査型ケルビンプローブ
主な仕様
| 仕事関数分解能： |
1-3mV |
| チップ移動距離 ： |
25mm |
| 最小移動ステップ幅： |
0.6µm |
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特 徴
◆ 試料上のチップが非接触で振動して測定
チップ径： 0.2mm〜10mm
容易なチップ交換
チップ‐試料間の距離をµm〜mm間で指定
測定範囲（ｘ・ｙ・ｚ）： ２５ｘ２５ｘ２５ ５０ｘ５０ｘ２５ｍｍ（オプション）
最小ステップ幅： 0.6µｍ/6µm
マッピング測定
◆仕事関数の相対値を測る
◆分解能 1meV （チップサイズによる）
◆１測定時間は１0秒以内
◆測定エネルギーの制限なし
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測定例
多結晶シリコン太陽電池セルの仕事関数３D表示
金メッキチップ Φ0.3mmを使用 
真鍮板腐食部の仕事関数３D表示
金メッキチップ Φ0.3mmを使用 |
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